Suchergebnis

• Effiziente Erfassung von realistischen Fehlern in hochintegrierten Schaltungen Stern, Olaf Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1996

• Elektrische Charakterisierung mikroelektronischer Bauelemente mittels der Rasterkraftmikroskopie Boehm, Christoph Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1995

• Kontaktloses Testen monolithisch integrierter Mikrowellenschaltungen mit der direkten elektrooptischen Testtechnik Mertin, Wolfgang Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1994

• Ein Prozessorfeld mit On-Line-Genauigkeitssteuerung und -Test für die schnelle Signalverarbeitung Siggelkow, Andreas Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1995

• Testbarkeitsanalyse analoger Schaltungen und Systeme ein Beitrag zur Meß- und Prüftechnik elektronischer Systeme Liu, Ji-Gou Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1997